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在压力(T C〜80 K)下,在LANIO 2(临界温度,T C〜10 K)的薄膜(临界温度,T C〜10 K)和LA 3 Ni 2 O 7(327)的散装单晶中,最近观察到了非常规超导性。通过327个系统中的结构测量结果,表明缺乏超导性与O-NI-O键的弯曲有关。同样,粘结弯曲可能与散装LANIO 2中没有超导性有关。中子衍射用于散装非抗性LA 1-X SR X NiO 2样品,以表明层自然弯曲,在2 K和环境压力下形成177°的Ni-O-NI键角。屈曲角在变暖至室温时增加到170◦。此外,观察到广泛的顺磁连续体,该连续体从室温信号传达可能过渡到相干状态时强度下降。然而,尽管不能排除铁磁(FM)相关性的增强,但未检测到抗铁磁(AFM)峰。

arxiv:2403.09826v1 [cond-mat.supr-con] 2024年3月14日

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